平面度是密封环很重要的一个质量指标，要求在0.0009mm以内，这样的数量级用普通的量具是无法测量的。既准确又迅速的方法是用光干涉法。它需要一个光学平晶和单色光源，一般用纳光灯。检测时，将平晶放到被检的密封端面上，斜上方用纳光灯照射检查干涉条纹的数量。